DSA8300/DSA8200 泰克 數(shù)字采樣示波器

DSA8300/DSA8200 泰克 數(shù)字采樣示波器

1. 品牌介紹

泰克（Tektronix）是全球電子測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域的企業(yè)，提供示波器、信號(hào)源、頻譜分析儀等測(cè)試設(shè)備與解決方案，產(chǎn)品覆蓋通信、半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)、消費(fèi)電子等行業(yè)。DSA8300 系列是泰克面向超高速信號(hào)測(cè)試的旗艦采樣示波器，以高帶寬、低抖動(dòng)、模塊化設(shè)計(jì)，為高速通信與數(shù)字電路研發(fā)提供測(cè)試支撐。

2. 產(chǎn)品特點(diǎn)

• 超寬頻帶采集：電接口帶寬 > 70GHz，光接口帶寬 > 80GHz，覆蓋主流高速電 / 光信號(hào)測(cè)試需求。

• 超低抖動(dòng)性能：8 通道同步采集時(shí)基抖動(dòng)典型值 425fs；搭配 82A04B 相位參考模塊，6 通道抖動(dòng) < 100fs。

• 高垂直分辨率：16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器，電接口分辨率 < 20μV LSB（1V 全量程），光接口分辨率低至 < 20nW，精準(zhǔn)捕捉微弱信號(hào)。

• 模塊化靈活架構(gòu)：6 個(gè)模塊插槽，支持電 / 光采集、時(shí)鐘恢復(fù)、相位參考等模塊混插，單臺(tái)最多 8 通道同步采集。

• 集成化測(cè)量能力：內(nèi)置 TDR 測(cè)量（典型邊沿 10ps）、S 參數(shù)分析、眼圖 / 抖動(dòng) / BER/TDECQ/SNDR 分析，支持 120 + 自動(dòng)測(cè)量與 80 + 標(biāo)準(zhǔn)模板測(cè)試。

• 高速信號(hào)適配：支持 NRZ、RZ、PAM4 信號(hào)，覆蓋 155Mb/s 至 400G 高速通信標(biāo)準(zhǔn)，適配光模塊與高速電接口測(cè)試。

• 高測(cè)試吞吐量：TDR 模式下每通道采樣率最高 300kS/s，支持 IEEE-488、以太網(wǎng)編程接口，提升自動(dòng)化測(cè)試效率。

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3. 產(chǎn)品規(guī)格

• 帶寬：電接口 > 70GHz；光接口 > 80GHz

• 垂直分辨率：16 位 ADC；電接口 < 20μV LSB（1V 量程）；光接口 < 20nW~<0.6μW（依模塊而定）

• 時(shí)基抖動(dòng)：8 通道同步采集典型 425fs；相位參考模式 6 通道 < 100fs

• 通道數(shù)：?jiǎn)闻_(tái)主機(jī)最多 8 通道同步采集

• 采樣率：TDR 模式每通道最高 300kS/s；其他模式最高 200kS/s

• 模塊插槽：6 個(gè)，支持電 / 光采集、時(shí)鐘恢復(fù)、相位參考等模塊

• 測(cè)量功能：TDR 阻抗 / 不連續(xù)性分析、S 參數(shù)、眼圖、抖動(dòng)、噪聲、BER、TDECQ、SNDR、模板測(cè)試

• 接口：前面板觸發(fā)輸入、IEEE-488、以太網(wǎng)、本地處理器接口

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4. 應(yīng)用場(chǎng)景

• 高速光通信測(cè)試：100G/400G 光模塊、收發(fā)器的眼圖、TDECQ、SNDR 測(cè)試，及 155Mb/s~400G 光接口一致性驗(yàn)證。

• 高速電信號(hào)完整性：PCIe、USB4、DDR、背板、高速 PCB、連接器的阻抗、串?dāng)_、傳輸時(shí)延與信號(hào)質(zhì)量測(cè)試。

• 半導(dǎo)體器件驗(yàn)證：高速 ASIC、FPGA、PHY 芯片的發(fā)射機(jī)信號(hào)質(zhì)量、眼圖、抖動(dòng)與 PAM4 信號(hào)分析。

• TDR 與 S 參數(shù)測(cè)量：高速傳輸線、射頻器件、濾波器的阻抗、不連續(xù)性定位與 S 參數(shù)時(shí)域 / 頻域分析。

• 通信標(biāo)準(zhǔn)一致性：ITU、ANSI、IEEE、SONET/SDH 等高速通信標(biāo)準(zhǔn)的制造與一致性測(cè)試。