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      KEITHLEY 吉時(shí)利 2636B 數(shù)字源表

      簡要描述:KEITHLEY 吉時(shí)利 2636B 數(shù)字源表,具備寬動(dòng)態(tài)量程與高速采集能力,支持TSP-Link擴(kuò)展,B型號升級精度,適配科研與生產(chǎn)測試需求。

      • 產(chǎn)品型號:Keithley 2636B
      • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
      • 更新時(shí)間:2026-01-13
      • 訪  問  量:173

      詳細(xì)介紹

      品牌Keithley/美國吉時(shí)利產(chǎn)地類別進(jìn)口
      應(yīng)用領(lǐng)域綜合

      一、品牌介紹

      Keithley(吉時(shí)利)成立于1946年,現(xiàn)隸屬于泰克科技(Tektronix),擁有七十余年電氣測試儀器研發(fā)與服務(wù)經(jīng)驗(yàn)。專注為半導(dǎo)體、電子制造、科研教育、新能源等領(lǐng)域提供高精度測試測量設(shè)備與解決方案,產(chǎn)品涵蓋系統(tǒng)源表、數(shù)字多用表、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等多個(gè)品類。多次榮獲行業(yè)大獎(jiǎng),憑借穩(wěn)定性能與技術(shù)積淀,在測試測量領(lǐng)域積累了良好聲譽(yù),服務(wù)網(wǎng)絡(luò)覆蓋多個(gè)國家和地區(qū)。

      二、產(chǎn)品特點(diǎn)

      • 多功能集成:單臺儀器融合精密電壓源、電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載及觸發(fā)控制器七大功能,B型號具備四象限源測量能力,簡化測試系統(tǒng)搭建。

      • 便捷操作體驗(yàn):搭載嵌入式TSP® Express軟件工具,無需編程或安裝額外軟件,B型號內(nèi)置Java-based測試軟件,支持瀏覽器即插即用,進(jìn)一步降低操作門檻。

      • 高速精準(zhǔn)測試:具備20,000讀數(shù)/秒的采集速度,信道同步精度低于500ns,B型號升級至6位半分辨率,0.1fA測量精度,可精準(zhǔn)捕捉低電流器件瞬態(tài)行為。

      • 靈活擴(kuò)展兼容:支持代碼后向兼容2600系列儀器,B型號新增2400系列軟件指令仿真;通過TSP-Link®總線可擴(kuò)展至32臺設(shè)備/64個(gè)通道,適配多通道并行測試需求。

      • 遠(yuǎn)程控制能力:符合LXI Class C標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)配USB、GPIB、LAN接口,B型號升級USB2.0,支持高速數(shù)據(jù)傳輸、遠(yuǎn)程測試監(jiān)控與故障排查,適配自動(dòng)化測試場景。

      三、產(chǎn)品規(guī)格

      • 通道數(shù)量:2個(gè)獨(dú)立通道,支持單通道操作與雙通道同步控制

      • 測量范圍:電壓100nV-200V,電流0.1fA-1.5A(直流)、10A(脈沖),寬動(dòng)態(tài)范圍適配低電流器件測試需求。

      • 輸出功率:整機(jī)輸出功率60W,單通道30W,滿足多數(shù)器件測試功率需求。

      • 采集速率:最高20,000讀數(shù)/秒,支持快速瞬態(tài)信號捕捉

      • 同步精度:信道同步誤差小于500ns,保障多通道協(xié)同測試精度

      • 通信接口:USB、GPIB、LAN,支持TSP-Link®總線擴(kuò)展,兼容LXI Class C標(biāo)準(zhǔn)

      • 物理參數(shù):機(jī)身設(shè)計(jì)緊湊,適配桌面與系統(tǒng)集成安裝,配備低噪聲三同軸電纜及配套連接器。

      • 質(zhì)保期限:提供1年原廠質(zhì)保服務(wù)

      四、應(yīng)用場景

      • 半導(dǎo)體領(lǐng)域:適用于二極管、晶體管、MOSFET等半導(dǎo)體器件的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)I-V特性測試,可精準(zhǔn)分析閾值電壓、跨導(dǎo)等參數(shù),助力器件研發(fā)與生產(chǎn)篩選。

      • 光電器件測試:可對LED、激光二極管、光電二極管、太陽能電池等光電器件進(jìn)行電學(xué)性能表征,精準(zhǔn)捕捉器件響應(yīng)特性。

      • 材料研究領(lǐng)域:適配納米材料、導(dǎo)電材料、半導(dǎo)體薄膜等的電學(xué)性能測試,0.1fA高精度可滿足低電流場景下的科研測量需求。

      • 電子制造行業(yè):用于傳感器、電池、集成電路(RFIC、ASIC、SOC)等元器件的生產(chǎn)測試與質(zhì)量管控,提升測試效率與一致性。

      • 科研與教學(xué):作為電子工程、材料科學(xué)等學(xué)科的實(shí)驗(yàn)工具,支持復(fù)雜實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與數(shù)據(jù)分析,助力科研創(chuàng)新與教學(xué)實(shí)踐。


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