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      KEYSIGHT E4990A 高性能臺式阻抗分析儀

      簡要描述:KEYSIGHT E4990A 高性能臺式阻抗分析儀,20Hz-120MHz寬頻,高精度測量,內置直流偏置,適配多領域阻抗測試需求。

      • 產品型號:E4990A KEYSIGHT
      • 廠商性質:經銷商
      • 更新時間:2026-03-10
      • 訪  問  量:82

      詳細介紹

      品牌KEYSIGHT/美國是德產地類別進口
      應用領域電子/電池,電氣,綜合

      1. 產品特點

      • 寬頻可升級設計:頻率范圍覆蓋20Hz至120MHz,提供5種可升級頻率選件(20Hz至10/20/30/50/120MHz),可根據測試需求靈活選擇,支持后期頻率升級,降低前期投入成本,適配不同場景的測試需求。

      • 高精度測量能力:采用自動平衡電橋法測量,基本阻抗測量精度達±0.08%,典型值可達±0.045%,阻抗測量范圍為25mΩ至40MΩ(10%測量精度條件下),能精準捕捉阻抗參數的細微變化,保障測量數據的可靠性。

      • 豐富測量參數與功能:支持多種阻抗相關參數測量,包括|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q等,同時可測量Vac、Iac、Vdc、Idc等電平參數;具備等效電路分析、極限線測試功能,等效電路分析支持7種不同多參數模型,助力器件特性深度分析。

      • 內置直流偏置電源:內置0V至±40V、0A至±100mA直流偏置電源,分辨率達1mV/40μA,可滿足半導體元器件等需要直流偏置條件下的阻抗測試需求,簡化測試環境搭建。

      • 便捷操作與顯示:配備10.4英寸TFT彩色LCD觸摸屏,支持4通道4跡線同時顯示,可同步查看不同測試條件下的參數;前面板設有硬鍵與功能鍵,搭配上下文相關嵌入式幫助系統,操作便捷,降低使用門檻。

      • 靈活接口與擴展能力:配備USB、LAN、USBTMC、GPIB等多種接口,支持遠程控制與數據傳輸;支持多種測試附件,可通過42942A終端適配器、42941A阻抗探頭等擴展測量功能,適配接地器件等特殊測試場景。

      2. 產品規格

      • 產品型號:E4990A

      • 儀器類型:高性能臺式阻抗分析儀

      • 測量方法:自動平衡電橋法

      • 頻率范圍:20Hz至10/20/30/50/120MHz(5種可升級選件,對應選件010/020/030/050/120)

      • 基本阻抗精度:±0.08%(典型值±0.045%)

      • 阻抗測量范圍:25mΩ至40MΩ(10%測量精度條件下)

      • 測量參數:|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、Complex Z、Complex Y、Vac、Iac、Vdc、Idc

      • 直流偏置:0V至±40V,0A至±100mA,分辨率1mV/40μA

      • 信號電平:電壓5mVrms至1Vrms(1mV分辨率),電流200μArms至20mArms(20μA分辨率),支持自動電平控制(ALC)

      • 顯示與操作:10.4英寸TFT彩色LCD觸摸屏,4通道4跡線顯示,每條跡線10個獨立游標

      • 接口規格:前面板2個USB端口、后面板4個USB端口、LAN(10/100/1000 base-T以太網)、USBTMC、GPIB、24位I/O

      • 可選配置:增強測量速度選件(001,僅適用于10M/20M/30M/50M頻率選件)、42942A終端適配器、42941A阻抗探頭、N1500A材料測量軟件

      • 標配附件:1臺E4990A阻抗分析儀、1年KeysightCare標準支持、標準數據存儲、用戶手冊及編程手冊

      3. 應用場景

      • 無源元器件測試場景:用于電容器、電感器、鐵氧體磁珠、電阻、變壓器、晶體/陶瓷諧振器等無源元器件的阻抗測量,可精準表征器件的頻率響應、自諧振頻率等特性,輔助研發與質控。

      • 半導體元器件測試場景:適用于變容二極管的C-V特征分析,以及二極管、晶體管、放大器、MEMS等半導體器件的阻抗評測,可在直流偏置條件下完成器件特性測試,滿足半導體研發與生產需求。

      • 材料測量場景:搭配專用夾具與N1500A軟件,可完成塑料、陶瓷、印刷電路板等介電材料,以及鐵氧體、非晶體等磁性材料的介電常數、損耗因數、導磁率等參數測量,適配材料研發與驗證。

      • 實驗室研發驗證場景:作為實驗室常規阻抗測量設備,適配電子元器件、材料、半導體等領域的研發測試,可完成參數調試、特性分析、設計驗證等工作,支持多參數、多條件同步測試。

      • 產線質控與檢驗場景:集成于產線測試系統,用于元器件、半導體器件的批量質量檢測,具備快速測量能力,可通過極限線測試功能快速判斷產品是否合格,保障出廠產品質量一致性。

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