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簡要描述:Yokogawa橫河 AQ6374 寬范圍光譜分析儀,覆蓋 350nm-1750nm 全波段,以高分辨率、寬動態(tài)范圍與快速測量能力,為光通信、激光器件研發(fā)提供精準光譜分析方案
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| 品牌 | YOKOGAWA/橫河電機 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,綜合 |
超寬波長覆蓋:測量范圍 350nm-1750nm,單次掃描覆蓋可見光至光通信全波段,滿足跨領域多場景測量需求Yokogawa。
高精度測量性能:波長精度 ±0.05nm, 波長分辨率 2pm,近旁動態(tài)范圍 60dB(峰值 ±1.0nm),精準捕捉激光側模、譜線細節(jié)等關鍵特性Yokogawa。
寬功率測量量程:支持 + 20dBm 至 - 80dBm 功率測量,適配高功率激光源與低功率光信號的同步測試。
快速測量效率:100nm 波長跨度測量僅需 0.5 秒(NORM_AUTO 靈敏度模式),搭配 100001 個采樣點,實現(xiàn)寬范圍、高分辨率的高效掃描。
豐富分析功能:內(nèi)置 WDM(OSNR)、DFB-LD、光纖放大器、LED、譜寬等 16 種專項分析,支持多曲線顯示與數(shù)據(jù)記錄,適配多樣化測試場景。
便捷操作與擴展:配備 4 個 USB 接口,支持外接設備;具備宏編程與遠程控制功能,可實現(xiàn)自動化測量與系統(tǒng)集成。
| 參數(shù)項 | 規(guī)格參數(shù) |
|---|---|
| 波長范圍 | 350nm - 1750nm |
| 波長精度 | ±0.05nm(內(nèi)置 / 外部光源校準) |
| 波長分辨率 | 0.05nm - 10nm(8 檔可調(diào), 2pm) |
| 動態(tài)范圍 | 60dB(峰值 ±1.0nm) |
| 功率測量范圍 | +20dBm 至 -80dBm |
| 測量速度 | 0.5 秒(100nm 跨度,NORM_AUTO) |
| 采樣點數(shù) | 100001 點 |
| 數(shù)據(jù)記錄 | 每通道最多 10000 點,帶時間戳,支持表格 / 圖形顯示 |
| 接口 | USB×4,支持遠程控制與外接設備 |
光通信器件研發(fā)與生產(chǎn):用于 DFB-LD、FP-LD、VCSEL、光纖放大器、WDM 器件、光收發(fā)器等有源 / 無源器件的光譜特性、OSNR、SMSR 等參數(shù)測試與評估。
激光技術研究:半導體激光器、光纖激光器的譜線寬度、側模抑制比、波長穩(wěn)定性等核心性能分析,助力激光器件優(yōu)化設計Yokogawa。
光學材料與器件測試:光學濾波器、光纖、光學涂層等材料的光譜透過率、反射率測量,支撐材料研發(fā)與質(zhì)量管控。
系統(tǒng)性能驗證:光傳輸系統(tǒng)、光傳感系統(tǒng)的光譜信號分析,保障系統(tǒng)傳輸質(zhì)量與穩(wěn)定性,適配實驗室研發(fā)與產(chǎn)線批量測試場景。
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